GWM-晶圆缺陷检测系统
GWM-晶圆缺陷检测系统
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    商品详情

      边缘检测:对硅片外周(Bevel)进行非接触式高速检测。 画像处理根据预先设定的参数条件自动提取各种缺陷,并判定是否合格。

      正面·背面检测:检测硅片上的凹凸缺陷。

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